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最低成膜溫度(Minimum filming temperature) 合成乳液體系形成連續(xù)膠膜的最低溫度，稱最低成膜溫度，簡稱MFT 最低成膜溫度 測試儀器：最低成膜溫度測定儀 查看詳情>>
最低成膜溫度(Minimum filming temperature)
合成乳液體系形成連續(xù)膠膜的最低溫度，稱最低成膜溫度，簡稱MFT
最低成膜溫度測試儀器：最低成膜溫度測定儀
收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日
檢測項：溫度-高度試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電氣產(chǎn)品 標準：軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗 GJB 150.2A-2009
檢測項：低氣壓（高度）試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電氣產(chǎn)品 標準：軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗 GJB 150.2-1986
檢測項：溫度-高度試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電氣產(chǎn)品 標準：軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度-高度試驗 GJB 150.6-1986
機構(gòu)所在地：四川省成都市
檢測項：全部參數(shù) 檢測樣品：游標高度卡尺 標準：《游標、帶表和數(shù)顯高度卡尺》GB/T 21390-2008
機構(gòu)所在地：浙江省寧波市
檢測項：溫度-高度試驗 檢測樣品：機電 產(chǎn)品 標準：軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分 溫度-濕度-振動-高度試驗 GJB150.24A-2009
檢測項：溫度-高度試驗 檢測樣品：機電 產(chǎn)品 標準：軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法溫度-高度試驗 GJB150.6-1986
檢測項：溫度-高度試驗 檢測樣品：機電 產(chǎn)品 標準：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境實驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗 GB/T2423.26-2008
機構(gòu)所在地：天津市
檢測項：?容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸 檢測樣品：日用 陶瓷 標準：?GB/T3301-1999日用陶瓷的容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸的測定方法
機構(gòu)所在地：廣東省潮州市
檢測項：容積、口徑誤差、高度誤差 檢測樣品：搪瓷 標準：日用陶瓷的容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸的測定方法 GB/T 3301-1999
檢測項：容積、口徑誤差、高度誤差 檢測樣品：搪瓷 標準：日用陶瓷器鉛、鎘溶出量的測定方法 GB/T 3534-2002
機構(gòu)所在地：陜西省西安市
檢測項：容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸 檢測樣品：陶瓷 標準：日用陶瓷的容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸的測定方法 GB/T 3301-1999
檢測項：容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸 檢測樣品：日用陶瓷 標準：日用陶瓷的容積、口徑誤差、高度誤差、重量誤差、缺陷尺寸的測定方法 GB/T3301-1999
機構(gòu)所在地：廣西壯族自治區(qū)玉林市
檢測項：溫度高度試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電子產(chǎn)品 標準：《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓(高度)試驗》 GJB150.2-1986
檢測項：溫度高度試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電子產(chǎn)品 標準：軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分:溫度-濕度-振動-高度試驗 GJB150.24A-2009
檢測項：溫度高度試驗 檢測樣品：軍用設(shè)備及電子產(chǎn)品 標準：《數(shù)字電視接收及顯示設(shè)備環(huán)境試驗方法》 SJ/T 11326-2006
機構(gòu)所在地：四川省綿陽市
機構(gòu)所在地：北京市
